EMC电磁兼容设计与测试案例分析

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第2版 序言

前言

第1章 EMC基础知识及EMC测试实质

1.1 什么是EMC

1.2 传导、辐射与瞬态

1.3 理论基础

1.3.1 时域与频域

1.3.2 电磁骚扰单位分贝（dB）的概念

1.3.3 正确理解分贝真正的含义

1.3.4 电场、磁场与天线

1.3.5 RLC电路的谐振

1.4 EMC意义上的共模和差模

1.5 EMC测试实质

1.5.1 辐射发射测试实质

1.5.2 传导骚扰测试实质

1.5.3 ESD抗扰度测试实质

1.5.4 辐射抗扰度测试实质

1.5.5 共模传导性抗扰度测试实质

1.5.6 差模传导性抗扰度测试实质

1.5.7 差模共模混合的传导性抗扰度测试实质

第2章 产品的结构构架、屏蔽、接地与EMC

2.1 概论

2.1.1 产品的结构、构架与EMC

2.1.2 产品的屏蔽与EMC

2.1.3 产品的接地与EMC

2.2 相关案例分析

2.2.1 案例1：传导骚扰与接地

2.2.2 案例2：传导骚扰测试中应该注意的接地环路

2.2.3 案例3：屏蔽体外的辐射从哪里来

2.2.4 案例4：“悬空”金属与辐射

2.2.5 案例5：伸出屏蔽体的“悬空”螺柱造成的辐射

2.2.6 案例6：屏蔽材料的压缩量与屏蔽性能

2.2.7 案例7：开关电源中变压器初、次级线圈之间的屏蔽层对EMI作用有多大

2.2.8 案例8：金属外壳接触不良与系统复位

2.2.9 案例9：静电放电与螺钉

2.2.10 案例10：散热器与ESD也有关系

2.2.11 案例11：怎样接地才有利于EMC

2.2.12 案例12：散热器形状影响电源端口传导发射

2.2.13 案例13：金属外壳屏蔽反而导致EMI测试失败

2.2.14 案例14：P CB工作地与金属外壳直接相连是否会导致ESD干扰进入电路

2.2.15 案例15：数/模混合器件数字地与模拟地如何接

第3章 产品中电缆、连接器、接口电路与EMC

3.1 概论

3.1.1 电缆是系统的最薄弱环节

3.1.2 接口电路是解决电缆辐射问题的重要手段

3.1.3 连接器是接口电路与电缆之间的通道

3.1.4 PCB之间的互连是产品EMC的最薄弱环节

3.2 相关案例

3.2.1 案例16：由电缆布线造成的辐射超标

3.2.2 案例17：屏蔽电缆的“Pigtail”有多大影响

3.2.3 案例18：接地线接出来的辐射

3.2.4 案例19：使用屏蔽线一定优于非屏蔽线吗

3.2.5 案例20：塑料外壳连接器与金属外壳连接器对ESD的影响

3.2.6 案例21：塑料外壳连接器选型与ESD

3.2.7 案例22：当屏蔽电缆的屏蔽层不接地时

3.2.8 案例23：数码相机辐射骚扰问题引发的两个EMC设计问题

3.2.9 案例24：为什么PCB互连排线对EMC那么重要

3.2.10 案例25：环路引起的辐射发射超标

3.2.11 案例26：注意产品内部的互连和布线

3.2.12 案例27：信号线与电源线混合布线的结果

3.2.13 案例28：电源滤波器安装要注意什么

第4章 通过滤波与抑制提高产品EMC性能

4.1 概论

4.1.1 滤波器及滤波器件

4.1.2 防浪涌电路中的元器件

4.2 相关案例

4.2.1 案例29：由Hub引起的辐射发射超标

4.2.2 案例30：电源滤波器的安装与传导骚扰

4.2.3 案例31：输出端口的滤波影响输入端口的传导骚扰

4.2.4 案例32：共模电感应用得当，辐射、传导抗扰度测试问题解决

4.2.5 案例33：电源差模滤波的设计

4.2.6 案例34：电源共模滤波的设计

4.2.7 案例35：滤波器件是否越多越好

4.2.8 案例36：滤波器件布置时应该注意的事件

4.2.9 案例37：如何解决电源谐波电流超标

4.2.10 案例38：接口电路中电阻和TVS对防护性能的影响

4.2.11 案例39：防浪涌器件能随意并联吗

4.2.12 案例40：浪涌保护设计要注意“协调”

4.2.13 案例41：防雷电路的设计及其元件的选择应慎重

4.2.14 案例42：防雷器安装很有讲究

4.2.15 案例43：如何选择TVS管的钳位电芯，峰值功率

4.2.16 案例44：选择二极管钳位还是选用TVS保护

4.2.17 案例45：铁氧体磁环与EFT/B抗扰度

4.2.18 案例46：磁珠如何降低开关电源的辐射发射

第5章 旁路和去耦

5.1 概论

5.1.1 去耦、旁路与储能的概念

5.1.2 谐振

5.1.3 阻抗

5.1.4 去耦和旁路电容的选择

5.1.5 并联电容

5.2 相关案例

5.2.1 案例47：电容值大小对电源去耦效果的影响

5.2.2 案例48：芯片电流引脚上磁珠与去耦电容的位置

5.2.3 案例49：静电放电干扰是如何引起的

5.2.4 案例50：小电容解决困扰多时的辐射抗扰度问题

5.2.5 案例51：金属外壳产品中空气放电点该如何处理

5.2.6 案例52：ESD与敏感信号的电容旁路