更新时间：2024-03-22 12:11:03
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内容简介
序言
前言
第1章 关于集成电路测试
1.1 集成电路测试相关书籍和标准推荐
1.2 准备工作
1.3 一些小约定
1.4 英文缩写
第2章 从理想电路到实际电路
2.1 实际的导线
2.1.1 开尔文连接
2.1.2 屏蔽与驱动保护
2.1.3 磁环与磁珠
2.2 实际的电阻
2.2.1 电阻的作用
2.2.2 实际电阻的分压电路
2.3 实际的电容
2.3.1 电容的参数以及影响
2.3.2 实际电路中的电容
2.3.3 电压驱动电阻电容（RC）电路的一阶系统响应
2.4 实际的电感
2.4.1 电感的作用
2.4.2 实际电路中的电感
2.5 驱动与负载
2.5.1 驱动能力的限制
2.5.2 负载效应的影响
2.6 继电器和电子开关
第3章 电源与测量的基本电路
3.1 V/I源的基本结构
3.1.1 整体结构
3.1.2 电压输出模式
3.1.3 电流输出模式
3.1.4 波形发生器模式
3.1.5 V/I源的测量
3.2 V/I源的限制
3.2.1 输出稳定时间
3.2.2 反馈响应时间
3.2.3 高度模型化的V/I源
3.3 ATE的测量电路
3.3.1 电压测量
3.3.2 时间测量
3.3.3 扫描测量
3.4 数字测试源
3.4.1 电源供电电路
3.4.2 直流参数测量电路
3.4.3 驱动输出电路
3.4.4 比较输入电路
3.4.5 有源负载电路
第4章 测试程序设计要求
4.1 测试程序的特殊要求
4.2 程序设计的风格
4.3 程序设计的防误方法
第5章 误差与校准
5.1 基于误差的计算
5.1.1 基于已有的元件参数计算电路误差
5.1.2 基于规格允许的误差选择元件参数
5.2 线性校准的原理与方法
5.3 非线性校准与数据拟合
第6章 模拟信号调理基础
6.1 电压放大与衰减电路
6.1.1 电压放大电路
6.1.2 电压衰减电路
6.2 电压与电流转换电路
6.2.1 电流电压转换
6.2.2 电压电流转换
6.2.3 测试三极管的VBE
6.3 比较电路
6.3.1 单限比较器
6.3.2 窗口比较器
6.3.3 滞回比较器
6.4 特性提取电路
6.4.1 峰值提取
6.4.2 滤波电路
6.4.3 采样保持
6.4.4 边沿检测
6.4.5 脉宽检测
6.5 信号修调电路
6.5.1 钳位限幅
6.5.2 电平调整
6.5.3 隔离转换
6.5.4 分频电路
6.6 相位补偿基础
6.6.1 极点和零点
6.6.2 相位补偿理论基础
6.6.3 运放环路增益精确测量的两种方法
6.6.4 相位补偿的灵活运用
第7章 数字信号处理基础
7.1 移动平均滤波
7.2 卷积与FIR滤波器
7.2.1 卷积
7.2.2 FIR滤波器
7.3 傅里叶变换
7.3.1 离散傅里叶变换和窗函数滤波器的频谱
7.3.2 窗函数解决频谱泄漏的应用
7.3.3 快速傅里叶变换
7.3.4 THD和SNR等频域参数的计算
7.3.5 FFT计算的注意事项
第8章 测试方法基础
