集成电路测试技术

封面

版权信息

内容简介

“集成电路系列丛书”编委会

编委会秘书处

出版委员会

“集成电路系列丛书·集成电路封装测试”编委会

编委会秘书处

“集成电路系列丛书”主编序言

前言

作者简介

第1章 集成电路测试概述

1.1 引言

1.1.1 集成电路测试的定义

1.1.2 集成电路测试的基本原理

1.1.3 集成电路测试的意义与作用

1.2 集成电路测试的主要环节

1.2.1 测试方案制定

1.2.2 测试接口板设计

1.2.3 开发测试程序

1.2.4 分析测试数据

1.3 集成电路测试的分类、行业现状及发展趋势

1.3.1 集成电路测试的分类

1.3.2 集成电路测试行业现状及发展趋势

1.4 集成电路测试面临的挑战

1.4.1 行业发展挑战

1.4.2 测试技术挑战

第2章 数字集成电路测试技术

2.1 数字集成电路测试技术概述

2.2 通用数字电路与ASIC测试技术

2.3 通用数字电路常见可测试性设计技术

2.3.1 内建自测试技术

2.3.2 扫描设计测试技术

2.4 存储器测试技术

2.4.1 存储器的故障模式和故障模型

2.4.2 存储器测试方法

2.5 数字信号处理器测试技术

2.5.1 功能模块的测试算法

2.5.2 指令测试方法

2.5.3 测试内容

2.5.4 测试向量生成方法

2.6 微处理器测试技术

2.6.1 微处理器测试内容

2.6.2 微处理器测试方法

2.7 可编程器件测试技术

2.7.1 常用可编程器件概述

2.7.2 可编程器件测试方法

第3章 模拟集成电路测试技术

3.1 模拟集成电路测试技术概述

3.2 通用模拟电路测试技术

3.3 放大器测试技术

3.3.1 集成运算放大器的测试方法

3.3.2 集成运算放大器的参数测量

3.4 转换电路测试技术

3.4.1 电平转换器（LDO）

3.4.2 电压-频率转换器

3.5 模拟开关测试技术

3.6 DC-DC变换器测试技术

第4章 数模混合集成电路测试技术

4.1 数模混合集成电路测试技术概述

4.2 基于DSP的测试技术

4.2.1 基于DSP的测试技术和传统模拟测试技术的比较

4.2.2 基于DSP的测试方法

4.2.3 采样原理

4.2.4 相干采样技术

4.3 模数（A/D）转换器测试技术

4.3.1 A/D转换器静态参数及其测试方法

4.3.2 A/D转换器动态参数及其测试方法

4.4 数模（D/A）转换器测试技术

4.4.1 D/A转换器静态参数及其测试方法

4.4.2 D/A转换器动态参数及其测试方法

第5章 射频电路测试技术

5.1 射频电路测试技术概述

5.2 射频前置放大器测试技术

5.2.1 射频前置放大器介绍

5.2.2 射频前置放大器参数及其测试方法

5.3 射频混频器测试技术

5.3.1 射频混频器介绍

5.3.2 射频混频器参数及其测试方法

5.4 射频滤波器测试技术

5.4.1 射频滤波器介绍

5.4.2 射频滤波器参数及其测试方法

5.5 射频功率放大器测试技术

5.5.1 射频功率放大器介绍

5.5.2 射频功率放大器参数及其测试方法

第6章 SoC及其他典型电路测试技术

6.1 SoC测试技术概述

6.2 SoC测试主要难点

6.2.1 SoC故障机理与故障模型

6.2.2 SoC测试难点分析

6.3 SoC测试关键技术

6.3.1 基本测试结构

6.3.2 测试环设计

6.3.3 IP核测试时间分析

6.3.4 SoC测试优化技术

6.4 其他典型器件测试技术概述

6.4.1 SiP测试技术

6.4.2 MEMS测试技术

第7章 集成电路设计与测试的链接技术

7.1 集成电路设计与测试的链接技术概述