第七节 小结

X线头影测量的发展归纳起来有两大起源地、两大里程碑式贡献和两大发展路径，而发展路径中的数学测量又进一步发展分为两个路径。

1.头影测量包含颅颌面部测量和面部美学。而颅颌面部测量起源于古埃及的艺术与科学，面部美学则起源于古希腊文明。

2.头影测量是由很多国家、很多学校、很多学者共同长期努力的结果，是由多学科共同结合而成的，如艺术、数学、哲学、人类学、考古学、解剖学、物理学、放射解剖学、统计学与口腔正畸学等学科。

3.X射线的发现是对颅面测量发展为X线头影测量的第一个里程碑式的贡献。

4.1931年由美国Broadbent和德国Hofrath分别发明创制的头颅定位仪，使他们的工作完善了头影测量的定位方法，所拍摄的X线定位片才具有可比性，这是头影测量发展过程中第二个里程碑式的贡献。

5.头影测量技术的发展分为两种路径，一是数学测量，二是图形重叠形态比较法。

6.数学测量技术的发展又分为两种路径，一种是建立各国、各民族分男女和不同牙龄期的平均值标准差，并与之对照比较进行诊断；另一种则不依靠与平均值标准差进行比较，而是依靠个体自身各组织结构的协调比例进行诊断，称为个体化诊断。