第1版前言

1931年，美国的Broadbent和欧洲的Hofrath分别提出X线头影测量技术，是根据X线头颅定位影像的特定解剖结构进行寻（循）迹描记，并确定一些标志点，然后对根据标志点测定出的角度、线距及线距比进行分析，或者是将两张或多张定位影像的描迹图根据一定的点和线进行重叠。由此可以：①了解颅、颌、面、牙软硬组织的结构情况及其相互关系，使我们能从牙、颌、面的表面形态转而深入了解其内部结构；②通过分析牙颌畸形患者的定位X线头影像，可进一步了解畸形的机制，有助于口腔正畸医师作出正确的临床诊断和矫治设计方案；③通过矫治前后的测量分析比对，还可了解矫治过程中和矫治后牙、颌、面的变化情况，并借此了解和评判矫治器的作用机制；④X线头影测量也常作为对儿童颅面生长发育的一种研究手段。半个多世纪以来，X线头影测量技术一直是口腔正畸科、正颌外科、关节病等临床诊断、治疗设计及研究工作的一个重要手段。此外，X线头影测量技术还可用于人类学、考古学的研究，以及法医侦查工作。

在我国，X线头影测量的发展从20世纪60年代初到现在已有50多年，可以说前几十年主要是用于各大院校的研究工作。而真正用于临床还是这十来年的时间，特别是近几年大批临床医师踊跃学习，将头影测量作为临床诊断和帮助制订矫治设计方案的工具，这势必将大大提高临床的治疗水平，形势令人欣喜！但是我们也看到很多初学者仍然对在头颅定位侧位片上描图和定点感到困难，同时也发现在头影测量的理论和实践中存在着大量误区，这些误区的存在造成了混乱，降低了头影测量结果的可比性与可靠性。

本书尝试用头颅定位侧位影像原图、干头骨、影像描迹线和完整头影描迹图四图对照比较，一一讲解，以帮助初学者认识、掌握各组织结构的影像特征和标志点的定位方法，同时结合理论和实践新增介绍精准描迹的具体方法。本书同时还从六个方面梳理了各种存在的误区，并从理论和具体方法上进行了分析，力求为修正误差提高精度贡献一份微薄的力量。由于能力有限可能存在各种谬误，盼各位同仁不吝赐教！