第1章 集成电路测试概述

1.1 引言

1.1.1 集成电路测试的定义

集成电路（Integrated Circuit，IC）测试是指对集成电路或模块进行检测，通过对集成电路的输出响应和预期输出进行比较，以确定或评估集成电路元器件功能和性能的过程。集成电路测试是验证设计、监控生产、保证质量、分析失效及指导应用的重要手段。

集成电路测试贯穿于集成电路设计、制造、封装和应用全过程之中[1]，相关示意图如图1-1所示。一款集成电路在流片之前，一定要经过原型验证测试；在流片回来后封装之前要进行晶圆测试（中测），剔除不合格品，避免封装管壳的浪费；封装好的产品要通过成品测试，成品测试是集成电路产品的最终测试[2]。只有通过测试的电路才能作为成品发货。测试人员需要针对集成电路不同的应用目的和不同的使用条件进行全面或特定的测试（如筛选测试、二次筛选测试、分析测试等）。

图1-1 集成电路测试贯穿集成电路产业链示意图