1.2.1 测试方案制定

测试方案需要根据器件测试规范来制定[9]。测试规范包括以下内容：

（1）功能、参数——测试条件、参数特性、功能特性、实现算法、输入/输出信号的特性、时钟频率等[10]；

（2）器件类型——处理器、存储器、可编程逻辑器件、模拟电路、数模混合电路等；

（3）封装特性——封装形式、引脚定义；

（4）工艺类别——可编程门电路、专用集成电路（Application Specific Integrated Circuit，ASIC）、标准单元等[11]；

（5）环境特性——工作温度范围、电压范围、湿度等；

（6）可靠性——质量等级（商业级、工业级、军品级）、静电释放（Electrostatic Discharge，ESD）、抗辐照能力等。

在测试规范的基础上，可以制定测试方案。测试方案需要包括：测试系统的选择、测试夹具的选择、DUT板设计方案、测试功能、参数项目清单和测试计划等。在选择测试系统时需要综合考虑多种因素，如数据吞吐量、时钟频率、定时精度、测试向量深度[12]、测试系统各种板卡的性能指标、测试系统需求及预计费用等。